近日,露笑科技股份有限公司(以下簡稱“露笑科技”)發(fā)布投資者關系活動記錄表,針對產線產能及未來擴產計劃等話題進行了回應。具體內容如下:
有投資者提問稱,公司產線11月全面投產,目前產能情況如何?未來有無擴產計劃?露笑科技表示,目前公司現(xiàn)有的襯底片年產能為2.5萬片,后續(xù)將根據(jù)市場訂單情況繼續(xù)進行擴產,預計到明年6月份之前,公司將年產能擴大到10萬片。
此前,露笑科技表示在6寸碳化硅的長晶領域有獨到的技術支持,對于目前長晶技術方面有無申請專利?長晶過程的關鍵點在哪里?對此露笑科技表示,SiC晶體生長經歷了三個階段,即Acheson法(1891年)、Lely法(1955年)、改進的Lely法(1978年)。Acheson法主要用來生產磨料,現(xiàn)在仍是生產磨料的主要方法,鱗狀單晶片是副產品。Lely法的應用使SiC晶體生長向前邁進了一步,但是和Acheson法一樣,由于無法有效控制成核,單晶尺寸小,阻礙了SiC晶體的應用。1978年,前蘇聯(lián)科學家Tairov和Tsvetkov在前人的基礎上,率先使用籽晶生長出SiC單晶,稱為改進的Lely法。這是一個劃時代的發(fā)明,極大地促進了SiC晶體的生長和應用。西屋科學技術中心的科學家對改進的Lely法進行了優(yōu)化,稱之為物理氣相輸運技術(PVT)。PVT法是目前生長SiC單晶最優(yōu)異的方法。
從SiC晶體生長的簡單歷史回顧看出,由于Tairov和Tsvetkov兩位科學家以論文的形式,報道了他們的研究成果,而沒有申請專利,因此SiC晶體生長技術(這里專指PVT法)是公開的技術,任何單位和個人都有權使用這種方法生長SiC晶體。
6英寸碳化硅晶體生長的關鍵在于溫場的調控和籽晶的粘接,這些所謂的“know-h(huán)ow”是晶體生長研究者長期實踐的總結,一般是不申請專利的。目前已公開的SiC晶體生長專利主要側重于生長設備、晶體生長的某些細節(jié)或籽晶處理等方面。露笑技術團隊經過堅持不懈的技術攻關,全面掌握了生長工藝參數(shù)之間的耦合關系,確定了各工藝參數(shù)的優(yōu)值,具備了可重復、可批量生長碳化硅晶體的設備及技術條件?;诩夹g保密的需要,露笑暫未申請相關專利,待時機成熟后公司會加大專利布局的力度。
被問及公司提供的襯底產品在全球處于什么水平,可否用于SiC功率器件時,露笑科技表示,公司生產的6英寸導電型4H-SiC襯底片已通過下游廠商驗證,各項參數(shù)達到了P級工業(yè)應用的國際標準,產品品質處于第一梯隊。公司的碳化硅襯底片既可用于碳化硅肖特基二極管(SBD),也可以用于金屬氧化物半導體場效應管(MOSFET)器件,能滿足絕大多數(shù)場景碳化硅功率器件的要求。
目前,露笑科技的襯底片應用領域包括碳化硅SBD二極管和MOSFET管,可以廣泛應用于新能源汽車、光伏等各個領域。公司的碳化硅襯底片車企和光伏領域都能應用,目前與下游一些知名廠商在積極接洽中。目前公司碳化硅襯底片生產工藝穩(wěn)定,水電氣等運行也一切穩(wěn)定,規(guī)?;慨a不存在問題。