一種面向SRAM型FPGA的三模冗余分區(qū)自修復(fù)方法研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aetmagazine
文檔大小：539 K
標簽： 單粒子效應(yīng) FPGA 三模冗余分區(qū)
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文檔介紹：SRAM型FPGA的低成本及其現(xiàn)場可編程性使其在航空航天工業(yè)中很受歡迎。為解決FPGA受宇宙輻射引起的單粒子效應(yīng)(Single Event Effect，SEE)，常使用三模冗余(Triple Modular Redundancy，TMR)這一緩解技術(shù)。該技術(shù)通常與配置刷新技術(shù)一起用來加固基于SRAM的FPGA。傳統(tǒng)的TMR只能針對單個故障提供一次保護，而將三模冗余結(jié)構(gòu)進行分區(qū)可以增強其環(huán)境適應(yīng)性。研究了一種將配置刷新和分區(qū)三模冗余結(jié)合的方法，并采用PRISM工具進行模型驗證，結(jié)果表明該方法可以增強系統(tǒng)的可用性。
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