高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)核心器件國產(chǎn)化水平研究
所屬分類：技術論文
上傳者：aetmagazine
文檔大?。?span>613 K
標簽： 《瓦森納協(xié)議》 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) ADC
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文檔介紹：高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)在高能物理、粒子物理實驗、輻射探測等科學研究中具有廣泛的應用，是許多大科學裝置的關鍵設備。高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)核心器件主要包括ADC和FPGA，國外一些發(fā)達國家在這方面的研究長期處于壟斷地位，高性能的ADC和FPGA是嚴格對我國實施技術管控的產(chǎn)品，因此研究基于國產(chǎn)化核心器件的高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)顯得尤為重要。基于高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的原理，根據(jù)《瓦森納協(xié)議》，梳理了西方國家對我國關鍵電子元器件以及測試儀器設備的技術封鎖情況，調研了國產(chǎn)高性能ADC芯片以及FPGA芯片的設計生產(chǎn)現(xiàn)狀并做了性能比對，同時分析了國內外示波器以及數(shù)據(jù)采集儀的現(xiàn)狀并做了性能指標方面的對比，最后討論了關鍵電子元器件國產(chǎn)化替代思路。
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