高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)核心器件國產(chǎn)化水平研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aetmagazine
文檔大?。?span>613 K
標(biāo)簽： 《瓦森納協(xié)議》 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) ADC
所需積分：0分積分不夠怎么辦？
文檔介紹：高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)在高能物理、粒子物理實(shí)驗(yàn)、輻射探測等科學(xué)研究中具有廣泛的應(yīng)用，是許多大科學(xué)裝置的關(guān)鍵設(shè)備。高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)核心器件主要包括ADC和FPGA，國外一些發(fā)達(dá)國家在這方面的研究長期處于壟斷地位，高性能的ADC和FPGA是嚴(yán)格對(duì)我國實(shí)施技術(shù)管控的產(chǎn)品，因此研究基于國產(chǎn)化核心器件的高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)顯得尤為重要。基于高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的原理，根據(jù)《瓦森納協(xié)議》，梳理了西方國家對(duì)我國關(guān)鍵電子元器件以及測試儀器設(shè)備的技術(shù)封鎖情況，調(diào)研了國產(chǎn)高性能ADC芯片以及FPGA芯片的設(shè)計(jì)生產(chǎn)現(xiàn)狀并做了性能比對(duì)，同時(shí)分析了國內(nèi)外示波器以及數(shù)據(jù)采集儀的現(xiàn)狀并做了性能指標(biāo)方面的對(duì)比，最后討論了關(guān)鍵電子元器件國產(chǎn)化替代思路。
現(xiàn)在下載
VIP會(huì)員，AET專家下載不扣分；重復(fù)下載不扣分，本人上傳資源不扣分。