基于UVM的Wishbone-SPI驗證平臺設(shè)計 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aetmagazine | |
文檔大?。?span>691 K | |
標簽: UVM SPI Wishbone | |
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文檔介紹:隨著芯片復雜度增加,芯片驗證在設(shè)計流程中所消耗時間也不斷提高。針對傳統(tǒng)驗證平臺重用性差、覆蓋率低,通過使用通用驗證方法學(Universal Verification Methodology,UVM)設(shè)計Wishbone-SPI驗證平臺,用UVM組件靈活地搭建驗證平臺,完成標準的驗證框架,設(shè)計受約束隨機激勵,自動統(tǒng)計功能覆蓋率。仿真結(jié)果顯示,該驗證平臺功能覆蓋率達到100%,并表明該平臺具有良好的可配置性與可重用性。 | |
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