器件級(jí)帶電器件模型靜電放電測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分析及應(yīng)用 | |
所屬分類(lèi):技術(shù)論文 | |
上傳者:wwei | |
文檔大?。?span>3887 K | |
標(biāo)簽: 帶電器件模型 器件級(jí) 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) | |
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文檔介紹:針對(duì)器件級(jí)帶電器件模型(CDM)靜電放電國(guó)內(nèi)外主要測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了整理、分析與解讀。梳理了各標(biāo)準(zhǔn)之間的差異性和關(guān)聯(lián)性,明確了各標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用范圍與技術(shù)要點(diǎn)。深入研究了影響器件級(jí)帶電器件模型(CDM)靜電放電測(cè)試結(jié)果的因素與控制方法,提出了在標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用過(guò)程中保障結(jié)果一致性和準(zhǔn)確性的相關(guān)技術(shù)技巧,為器件級(jí)帶電器件模型(CDM)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的選擇、測(cè)試和工程應(yīng)用提供了指導(dǎo)。 | |
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