彰顯性能和生產優(yōu)勢，Altera展示28nm全線產品

這次的發(fā)布會，Altera可以說是煞費苦心，不同產品線的工程師在Jenifer的帶領下全線出擊，現(xiàn)場產品演示與交流，突出Altera 28nm產品的幾大亮點，為2012年做了一個全面的總結。

發(fā)表于：1/23/2013 5:09:21 PM

測控平臺化軟件解決方案X-Designer應運而生

近日，國內領先的行業(yè)測控專家、測控系統(tǒng)整體解決方案提供商——北京泛華恒興科技有限公司(簡稱：泛華恒興)召開了題為“測試平臺化軟件解決方案——X-Designer”的產品發(fā)布會，泛華恒興高級系統(tǒng)工程師、軟件組產品負責人宮晨、高級產品工程師李巍出席了會議，從X-Designer的開發(fā)原理及產品定位等方面做了詳細介紹。

發(fā)表于：1/16/2013 2:16:01 PM

Teledyne LeCroy欲借12位ADC高精度示波器搶占中低端市場

2012年5月28日，世界三大數字示波器廠商之一的LeCroy(力科)被Teledyne以比當時LeCroy在NASDAQ的股價高出約50%的價格現(xiàn)金收購。

發(fā)表于：12/27/2012 3:17:31 PM

全新的Maxim Integrated帶你走進模擬整合時代

2012年10月9日，以設計“智慧型產品”而著稱的原Maxim Integrated Products, Inc.宣布正式發(fā)布Maxim新品牌形象及相關策略。Maxim全球市場銷售副總裁Walter Sangalli、市場部執(zhí)行總監(jiān)Anders Reisch、中國區(qū)總經理董曄煒共同出席了發(fā)布會。見證Maxim跨時代的轉變，并詮釋Maxim在模擬整合的未來發(fā)展方向。

發(fā)表于：12/27/2012 3:09:42 PM

承載行業(yè)使命 引領潮流發(fā)展

——專訪泛華董事長左毅

在中國的測試測量行業(yè)存在這樣一個企業(yè)，無論是對行業(yè)現(xiàn)狀、發(fā)展規(guī)律的認識上，還是所能提供的技術、產品質量上，都能稱之為“測試測量行業(yè)的專家”。它率先將“虛擬儀器”概念引入中國，經過十幾年耕耘，收獲的不僅僅是“虛擬儀器”在中國的推廣和技術升級，而且還在實際應用中掌握了中國測控市場的需求，探索出應用創(chuàng)新的技術模式，培養(yǎng)出強大的研發(fā)和銷售團隊，更重要的在于提煉出柔性測試技術，進一步推動了中國測試測量行業(yè)的發(fā)展。

發(fā)表于：12/26/2012 3:19:44 PM

飛思卡爾與周立功強強聯(lián)手，劍指中國中小型客戶

飛思卡爾半導體公司（飛思卡爾）新CEOGregg Lowe上任之后，飛思卡爾內部進行了一些調整，微控制器（MCU）成為了飛思卡爾的發(fā)展重點，因為MCU是飛思卡爾最強大、有很多客戶群的產品。其市場目標也逐步明確，即增加市場份額和創(chuàng)造更多的利潤。為此，飛思卡爾必須要拓展其眾多MCU在各行各業(yè)的應用，特別是吸引廣大的中小型客戶，擺脫過去那種對汽車、通信等領域大客戶的依賴。

發(fā)表于：12/21/2012 9:19:42 AM

黑暗中的守護者，解讀TI在安防領域的優(yōu)勢

從低照技術到編碼效率再到智能分析

夜晚一般是犯罪率發(fā)生比較高的時候，而且大都發(fā)生在光線差甚至沒有光的場所，當攝像機安裝在這些場所時，所獲得的場景影像呈粗粒狀，難以看到清晰的車牌或人面等畫面。因此，加大低光技術的研究對打擊犯罪而言就顯得尤為重要。而在其他領域也越來越重視在光線非常差的情況下的攝像機的圖像采集能力。憑借著在圖像處理方面30年的技術積累，德州儀器（TI）義不容辭地加入到低照技術的研究中來。近日，在北京舉辦的中國國際公共安全博覽會(CPSE) 上，TI向記者展示了TI在低照技術上所取得的成果，并進行了詳細介紹。

發(fā)表于：12/12/2012 2:48:25 PM

靈活“穿梭”在攝像機中，Lattice秀FPGA安防應用成果

FPGA自誕生以來，就憑借其靈活性在眾多領域發(fā)光發(fā)熱。隨著安防與監(jiān)控應用對各種性能要求的提高，F(xiàn)PGA在該領域也越來越多的被采用。近日，在北京舉辦的中國國際社會公共安全產品博覽會（安博會）上，萊迪思（Lattice）就展示了采用其低密度和超低密度FPGA的新型攝像機設計解決方案和HDR-60開發(fā)套件

發(fā)表于：12/7/2012 9:55:31 AM

軟件設計的儀器 NI再掀測試測量領域新浪潮

NIDays 2012 全球圖形化系統(tǒng)設計盛會中國站圓滿落幕

2012年11月16日， 由美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）舉辦的一年一度的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設計盛會”中國站于北京萬達索菲特大飯店圓滿落幕。本屆NIDays吸引了近千名來自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體到會，通過精心挑選的技術講座，最新的產品與創(chuàng)新應用展示，精彩的互動交流等環(huán)節(jié)，向工程師們傳達了最新前沿技術信息以及NI在測試測量、控制和設計領域的應用革新。

發(fā)表于：12/6/2012 9:29:15 AM

MEMS為意法半導體打造別樣天空，讓學子展示無限想象

2012年意法半導體iNEMO校園設計大賽深入人心

去年，意法半導體頗具創(chuàng)新地以MEMS為焦點，舉辦了第一屆iNEMO校園設計大賽，讓很多高校老師和學生對意法半導體的MEMS和iNEMO有了初步認識。而就是這個“第一次親密接觸”，讓很多高校師生們對它們一見傾心，2012年的比賽吸引了44所大學的121支參賽團隊，共提交了涵蓋各應用領域的117個設計方案，無論是從數量和質量上都遠遠超過了去年。這也足以看出這一年來，意法半導體在推廣MEMS以及將iNEMO深入校園上所費的苦心和獲得的成果。

發(fā)表于：11/30/2012 10:18:58 AM