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消息稱內(nèi)存原廠考慮HBM4采用無助焊劑鍵合

進(jìn)一步降低層間間隙
2024-11-15
來源:IT之家

11 月 14 日消息,據(jù)韓媒 ETNews 報(bào)道,三星電子SK 海力士、美光均對(duì)在下代 HBM4 內(nèi)存中采用無助焊劑鍵合(Fluxless Bonding)技術(shù)抱有興趣,正在進(jìn)行技術(shù)準(zhǔn)備。

SK 海力士此前已宣布了 16 層堆疊 HBM3E,而從整體來看 HBM 內(nèi)存將于 HBM4 開始正式轉(zhuǎn)向 16 層堆疊。由于無凸塊的混合鍵合技術(shù)尚不成熟,傳統(tǒng)有凸塊方案預(yù)計(jì)仍將是 HBM4 16Hi 的主流鍵合技術(shù)。

更多的 DRAM Die 層數(shù)意味著 HBM4 16Hi 需要進(jìn)一步地壓縮層間間隙,以保證整體堆棧高度維持在 775 μm(IT之家注:即 0.775 mm)的限制內(nèi)。

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在這一背景下,三大內(nèi)存原廠均注意到了現(xiàn)有 HBM 鍵合工藝使用的助焊劑:助焊劑可清理 DRAM Die 表面的氧化層,保證鍵合過程中機(jī)械和電氣連接不會(huì)受到氧化層影響;但助焊劑的殘余也會(huì)擴(kuò)大各 Die 之間的間隙,提升整體堆棧高度。

消息人士表示,三大 HBM 內(nèi)存原廠對(duì)無助焊劑鍵合的準(zhǔn)備程度不同:美光在與合作伙伴測(cè)試工藝方面最為積極、SK 海力士考慮導(dǎo)入、三星電子也對(duì)此密切關(guān)注。


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